8M103700

技術経営データ分析2

Data Analysis for MOT1

開講部

専門職大学院工学マネジメント研究科

開講学科

工学マネジメント専攻

開講学年

学年共通

専門領域

経営・管理

開講時期

前期

単位数

2

単位区分

選択

系列区分

講義

講義区分

発展

辻本将晴

キーワード

ノンパラメトリック検定
判別分析・ロジスティック回帰分析
クラスター分析
因子分析
共分散構造分析

授業の概要

技術経営にとって重要なベースの一つである定量的なデータの分析方法について、データベース構築の方法、統計的な分析ツールの使い方等、基本的な知識とスキルを習得することを目的とする。
技術経営データ分析(1)で扱う対象は、主にカテゴリカル・データ(質的データ)である。当科目の到達目標は、統計的な理論の理解ではなく、統計分析をツールとして使いこなすことである。科目の履修者には、SPSS 16.0Jを利用可能とし、講義を通してツールの使用方法を学んでいく。
講義は始めに基礎事項を学んだあと、各回、特定の分析手法を紹介し、実際に分析を行って簡単な課題を提出することとする。
最終課題はサンプルデータか独自データを使用した分析レポートとする。

授業計画

第1回.ガイダンス:講義の進め方
第2回.統計ソフトの準備:データ入力・変数の設定
第3回.記述統計
第4回.ノンパラメトリック検定(1)χ二乗検定
第5回.ノンパラメトリック検定(2)マン・ホイットニーのU検定
第6回.ノンパラメトリック検定(3)クラスカル・ウォリスの検定
第7回.ノンパラメトリック検定(4)スピアマンの順位相関
第8回.分散分析
第9回.判別分析・ロジスティック回帰
第10回.クラスター分析
第11回.因子分析(1)
第12回.因子分析(2)
第13回.共分散構造分析
第14回.サンプルデータ分析実習
第15回.サンプルデータ分析実習

評価方法と基準

出席と課題(60%)、最終レポート(40%)

テキスト

石村貞夫・石村光資郎、『統計ソフト SPSS Student Version 13.0J』、2006年、東京図書

履修条件

特になし

環境との関連

環境に関連しない科目

最終更新 : Sat Apr 03 01:43:59 JST 2010