電子デバイス工学特論 |
Integrated Circuits |
開講部 | 大学院理工学研究科 修士課程 |
開講学科 | 電気電子情報工学専攻 |
開講学年 | 1年次 |
開講時期 | 後期 |
単位数 | 2 |
単位区分 | 特修 |
系列区分 | 特論 |
講義区分 | 講義 |
教授 | 堀尾和重 |
1. | 半導体工業の歴史とIC |
2. | ICの種類 |
3. | モノリシックICの構造概要、製造方法の概要 |
4. | pn接合の特性(空乏層の広がりと接合容量、整流特性と耐圧特性)、バイポーラトランジスタ |
5. | MOS構造の特性(電圧印加時の表面電位のふるまい、C−V特性とチャネルの形成)、MOSトランジスタ |
6. | 半導体モノリシックICの製造技術1) シリコン単結晶、酸化と酸化膜の性質 |
7. | 半導体モノリシックICの製造技術2) 熱拡散とイオン打ち込み |
8. | 半導体モノリシックICの製造技術3) エピタキシャル成長、CVD技術、蒸着 |
9. | 半導体モノリシックICの構成素子1) アイソレーション構造、モノリシック抵抗 |
10. | 半導体モノリシックICの構成素子2) モノリシックコンデンサ、配線及び交差点 |
11. | 半導体モノリシックICの構成素子3) MOSトランジスタ |
12. | 半導体モノリシックICの構成素子4) バイポーラトランジスタ、ダイオード |
13. | 半導体モノリシックICのパターン設計 |