表面分析及び演習

近年のエレクトロニクスと真空技術を駆使した分析装置は、見えなかったものが見えるように、測定できなかったものが測定できるようにと、急速に進歩している。分析解析技術は、１.新材料の開発　２．新製品開発　３．品質・信頼性確保など、研究開発分野を中心にもっとも基本的な技術の一つとして広く活用され、それが果たす役割にはきわめて重要なものがある。ここでは、“材料表面”の分析という観点から、まず金属を主とした表面の構造や性状について、次に代表的な分析機器の原理、構造、適用例などについて講述するとともに、演習を通じて認識と理解を深める。

1.	1　はじめに　　　・分析解析技術の役割と重要性 1.2　簡単な結晶学　・結晶系と結晶構造
2.	1　表面物性(1)　　・点格子欠陥 2.2　表面物性(2)　　・線格子欠陥
3.	1　表面の性状(1)　　　　　・金属表面の構造と組成 3.2　表面の性状(2)　　　　　・表面の物理化学的性状
4.	1　分析解析技術の分類　　　・組成分析、状態分析、形状・構造分析 4.2　分析解析手法と装置　　　・無機・金属材料の分析解析、有機・高分子材料の分析解析
5.	1　蛍光Ｘ線分析法　　　・原理、構成、特徴 5.2　蛍光Ｘ線分析法　　　・試料調製、測定、適用例
6.	1　電子線微小部分析法（Ｘ線マイクロアナライザー）　　　・原理、構成、特徴 6.2　電子線微小部分析法　　　・試料調製、測定、適用例
7.	1　オージェ電子分光分析法　・原理、構成、特徴 7.2　オージェ電子分光分析法　・試料調製、測定、適用例
8.	1　二次イオン質量分析法　　・原理、構成、特徴 8.2　二次イオン質量分析法　　・試料調製、測定、適用例
9.	1　Ｘ線光電子分光分析法　　・原理、構成、特徴 9.2　Ｘ線光電子分光分析法　　・試料調製、測定、適用例
10.	1　走査型電子顕微鏡　　　　・原理、構成、特徴 10.2　走査型電子顕微鏡　　　　・試料調製、観察、適用例
11.	1　Ｘ線回折法　　　　　　　・原理、構成、特徴 11.2　Ｘ線回折法　　　　　　　・試料調製、測定、適用例
12.	1　フーリェ変換赤外分光法　・原理、構成、特徴 12.2　フーリェ変換赤外分光法　・試料調製、測定、適用例
13.	1　走査型トンネル顕微鏡　　・原理、構成、特徴 13.2　走査型トンネル顕微鏡　　・試料調製、測定、適用例
14.	1　応用(1)　　　　　　　　・多結晶集合体の構造、結晶構造の決定 14.2　応用(2)　　　　　　　　・応力測定
15.	試　験

開講部	工学部
開講学科	材料工学科
開講学年	2年次
開講時期	後期
単位数	4
単位区分	選択
系列区分	専門
講義区分	講義

C0830400

授業の概要

達成目標

授業計画

評価方法と基準

教科書・参考書

履修前の準備

オフィスアワー

環境との関連